Analisi
con microscopio
SEM
Identifica eventuali difetti, contaminazioni, anomalie e misura i parametri del tuo componente con il microscopio a scansione elettronica (SEM) di Alticolor.
Le funzionalità del microscopio SEM
- 01.
Definizione della composizione del componente, individuazione di eventuali difetti, punti di rottura, contaminazioni, anomalie (failure analysis), misurazione del valore di rugosità e della profondità dei crateri
- 02.
Estrema precisione grazie al sistema di spettrometria a dispersione di energia (EDS) e un detector per la catodoluminescenza (SEM-CL)
- 03.
Analisi rapide e affidabili, grazie alla facilità d’uso e alla ridotta preparazione del campione, riducendo i tempi di fermo e ottimizzando i processi di controllo qualità.
- 04.
Risultati misurabili in termini di conformità del componente.